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承接上文:《光學(xué)濾光片出貨檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(一)》
我們前一篇文字介紹了關(guān)于外觀檢驗(yàn)濾光片標(biāo)準(zhǔn)的一些基本介紹,這篇文字主要是介紹了關(guān)于濾光片麻點(diǎn)以及濾光片劃痕的相關(guān)知識(shí)。
光學(xué)濾光片表面缺陷標(biāo)準(zhǔn)定義:
根據(jù)國(guó)內(nèi)使用比較多的美軍標(biāo)MIL-PRF-13830B用兩組數(shù)字表示濾光片表面缺陷大小。
比如說(shuō):
40/20(或40-20)前者限制劃痕大小,后者限制麻點(diǎn)大小。
產(chǎn)品表面的道子、產(chǎn)品表面亮路屬于濾光片劃痕。
產(chǎn)品表面的斑點(diǎn)、坑點(diǎn)、點(diǎn)子 屬于濾光片麻點(diǎn)。
一般來(lái)講濾光片的規(guī)定長(zhǎng)與寬的比大于4:1的為劃痕;長(zhǎng)與寬的比小于4:1的為麻點(diǎn)。
濾光片的劃痕和麻點(diǎn)圖示
引申閱讀:
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